设备型号:CS-70_1000-5本设备采用高低温变设备模拟温差较大的环境,对产品进行可靠性检测,本产品可靠性高,控制精度高,使用方便等特点。满足高标准的高低温变的实验要求。温度测试温度范围:-70 °C to +180 °C温度波动:0.1 to 0.5 K 温度变化率:加热: 5 K/min.降温: 5 K/min.热耗散:5,500 W 在+20°C5,500 W 在± 0°C3,70...
高温动态老化测试系统(COBIS II)是由美国TRIO-TECH公司研发的大容量、高等级的集成电路动态老化测试系统。它的突出特点是大深度的测试向量存储,可实现复杂功能集成电路内部“工作状态下的老化”。高温动态老化测试系统(COBIS II)具有测试吞吐率大、测试范围广、质量稳定可靠、操作使用方便等特点,COBIS II 标准系统中最多可同时支持2560个独立测试通道,并可在测试过程中通过通...
高温动态老化测试系统(COBIS II)是由美国TRIO-TECH公司研发的大容量、高等级的集成电路动态老化测试系统。它的突出特点是大深度的测试向量存储,可实现复杂功能集成电路内部“工作状态下的老化”,是一款真正意义上的高端老化测试系统。高温动态老化测试系统(COBIS II)具有测试吞吐率大、测试范围广、质量稳定可靠、操作使用方便等特点,COBIS II 标准系统中最多可同时支持2560个...