集成电路测试设备

芯片性能测试

2018-05-21
产品规格与特性分析;可测性(DFT)方案评估;测试向量转换和仿真;测试程序开发和调试;测试接口板的设计制造;Socket插座设计制造;探针卡的设计制造;量产测试程序的移植;覆盖众多主流自动测试设备;

芯片系统集成

2018-05-21
基于仪器仪表的系统开发;基于标准测试设备方案开发;基于标准测试设备+外挂仪表的测试方案开发;已开发测试系统:RF射频测试系统高速ADDA测试系统视觉芯片测试系统大功率IGBT芯片测试系统

芯片失效分析

2018-05-21
环境可靠性测试:HTS,HAST,THB,PCT,TC,Pre-condition;寿命考核测试:HTOL,BLT,ELFR;静电及栓锁效应测试;

电路板级测试

2018-05-21
简单电路系统: 如手机,数字机顶盒,SSD等;高密度电路系统:如工业控制模块,汽车电子车载多媒体等;超复杂电路系统:如通信基站,信号采集和分析设备,视频采集和分析设备,交换机,大型服务器等
电话:13718718609
电话:bill.zhang@icer.ltd
地址: 北京市西城区百万庄大街16号8号楼8211
电话咨询:020-000000
QQ咨询:177488228
微信客服
扫码咨询