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高温动态老化测试系统（COBIS II）是由美国TRIO-TECH公司研发的大容量、高等级的集成电路动态老化测试系统。它的突出特点是大深度的测试向量存储，可实现复杂功能集成电路内部“工作状态下的老化”。高温动态老化测试系统（COBIS II）具有测试吞吐率大、测试范围广、质量稳定可靠、操作使用方便等特点，COBIS II 标准系统中最多可同时支持2560个独立测试通道，并可在测试过程中通过通...

TRIO-TECH气泡测试仪满足测试条件C下MIL-STD-883中1014号方法的所有要求，同时该气泡测试机与TRIO-TECH 489系列粗检漏加压系统相配合，能满足全方位粗检漏的要求。该测试仪结合了现有的军事标准、实验室应用及生产力三方优势。从固定的温度控制器到清晰的光学仪器，TRIO-TECH气泡检测仪采用了微电子设置系统，可以选择三个标准中的任一标准或者按照客户的要求的规格测试。每...