芯片失效分析
作者： 来源： 发布时间：2018/05/21 浏览：1613
环境可靠性测试：
HTS，HAST，THB，PCT，TC，Pre-condition；
寿命考核测试：
HTOL，BLT，ELFR；
静电及栓锁效应测试；
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