美国Teradyne FLEX系列测试设备，包括Micro-FLEX、FLEX、Ultra-FLEX等不同配置型号。该系列产品覆盖中高端数字、模拟、数模混合的测试，具备复杂的混合信号、System-on-a-Chip（SOC）和System-in-Package（SiP）器件测试能力。该系列全部采用IG-XL的测试应用开发及测试管理系统，基于Windows操作系统和Excel表格式编程，具有易学易用、高效灵活的特点，特别适合多品种、复杂器件的测试程序开发要求，是一款功能强大、性能优越、高效稳定的自动测试系统。

     ULTRAFLEX测试系统是美国泰瑞达公司推出的新一代集成电路测试系统。是基于器件内核的测试仪（Tster per Device Core）。拥有高扩展和高适应未来需求的通用插槽结构、对所有仪表精确同步控制的Sync-Link（同步链接）总线、高速实时处理后台DSP以及完全并行测试软件IGXL，能保证更高精度和更好的重复性，更高效率的测试要求。它集成度高，功能强大，使用方便，占地面积小，性价比突出，并已经过大生产的考验。它是当前国内集成电路设计验证，入厂筛选以及大生产的首选。它能覆盖目前半导体市场上大范围的器件测试。这些器件包括有DFT集中测试、带有数模和模数转换的微控制器、DSP基带、标准的模拟器件、功率器件、线性器件、芯片级系统、(射频/中频)、运放器件、音频视频器件、高清晰电视、无线网络、数码相机等。

主要特点：
            通用的仪表插槽提供了系统配置的灵活性。
            体积小功耗低，模块化结构设计。
            Per-Pin结构的SoC测试系统
            独立的高精度时钟系统
            独特的基于光学基准时钟和同步系统
            高密度多功能的DC/AC仪表
            后台零时间等待的DSP系统
            独特的后台零时间等待的三级DSP处理系统
            重复性精度极高的时间跟踪仪表
            高效率的并行并发测试
            独特的PSET（参数集）功能
            完善的系统选件
            多级别的软件开发环境
            开放式的系统结构和软件接口
            可复用测试IP技术

            硬件PA协议测试

            三维SHMOO图形化功能

高性能的数字系统
            Ultrapin1600数字子系统可以应对高速数字器件，SOC器件和SIP器件带来的测试的新挑战。
            Ultrapin1600数字子系统，数据速率高达2.2Gbps、通道高达2048，具有单端或差分输入输出功能。
            UltraSerial10G数字子系统,数据速率高达10.7Gbps, 具有单端或差分输入输出功能。

高性能的模拟、SOC混合信号测试
            ULTRAFLEX继承和发展了TERADYNE A5系列、CATALYST系列，J750高性能模拟测试技术，推出一系列,将对测试领域产生深远影响的重要新技术。把模拟、SOC混合信号测试提高到一个崭新的高度。

测试选件
            DSSC(Digital Signal Source and Capture数字信号源和捕获)
            MTO(Memory Test Option存储器测试选件)
            SCAN (扫描测试选件)

软件系统
            采用Windows2000/NT/XP测试系统平台
            基于 Windows Excel的测试开发组件IG-XL™
            基于模板的编程环境
            面向混合信号的多种开发工具
            图形化的环境提供了高效率的编程工具
            开放结构的软件系统和接口
            可复用IP核技术
            丰富的调试工具
            IMAGE TO IG-XL Converter测试程序转换工具
            DigitalVX软件仿真工具
            数据分析和特性分析统计工具
            脱机开发软件
            系统自诊断软件