高温动态老化测试系统（COBIS II）是由美国TRIO-TECH公司研发的大容量、高等级的集成电路动态老化测试系统。它的突出特点是大深度的测试向量存储，可实现复杂功能集成电路内部“工作状态下的老化”。

高温动态老化测试系统（COBIS II）具有测试吞吐率大、测试范围广、质量稳定可靠、操作使用方便等特点，COBIS II 标准系统中最多可同时支持2560个独立测试通道，并可在测试过程中通过通道监控和测试数据的比较功能。COBIS II 可针对各种类型的集成电路器件，以及各种封装形式提供老化测试。因在生产工艺中采用高等级的元器件和高规格部件，COBIS II拥有令人瞩目的高稳定性。同时，采用高效的软件操作环境，具有测试向量的文体自动输入工具等功能，极大的方便了用户的日常工作，减轻了技术劳动。目前COBIS II已被广泛应用于国内外众多知名的集成电路封装测试工厂和研究所机构的老化测试工作中。